第四屆國(guó)際光電子探測(cè)與成像技術(shù)學(xué)術(shù)交流會(huì)

英文名稱：InternationalSymposiumonPhotoelectronicDetectionandImaging2011
會(huì)議時(shí)間：2011/5/24~2011/5/26
會(huì)議行業(yè)：光電技術(shù)
第四屆國(guó)際光電子探測(cè)與成像技術(shù)學(xué)術(shù)交流會(huì)會(huì)議背景：
繼2009年“第三屆國(guó)際光電子探測(cè)與成像技術(shù)學(xué)術(shù)交流會(huì)”成功召開之后，中國(guó)宇航學(xué)會(huì)光電技術(shù)專業(yè)委員會(huì)聯(lián)合國(guó)際光學(xué)工程學(xué)會(huì)(SPIE)將于2011年5月在北京舉辦“第四屆國(guó)際光電子探測(cè)與成像技術(shù)學(xué)術(shù)交流會(huì)”。屆時(shí)大會(huì)組委會(huì)將邀請(qǐng)80余位國(guó)外本領(lǐng)域?qū)W術(shù)帶頭人和前沿技術(shù)專家到會(huì)作專題報(bào)告。本次會(huì)議不僅是國(guó)內(nèi)外學(xué)術(shù)精英與工程專家匯聚的一次盛會(huì)，更是交流技術(shù)發(fā)展、探討國(guó)際合作的絕好機(jī)會(huì)！我們誠(chéng)摯邀請(qǐng)?jiān)擃I(lǐng)域的專家、學(xué)者、科研與工程技術(shù)人員，及光電企業(yè)界人士參會(huì)！屆時(shí)會(huì)議還舉辦企業(yè)展會(huì)?，F(xiàn)正火熱征文中，稿件一經(jīng)錄用將編入ISPDI2011論文集，由美國(guó)SPIE出版（EI收錄）。

第四屆國(guó)際光電子探測(cè)與成像技術(shù)學(xué)術(shù)交流會(huì)征文要求：
專題一：傳感器與微機(jī)械光器件技術(shù)(Sensorandmicromachinedopticaldevicetechnologies)；
專題二：激光探測(cè)和成像技術(shù)(Lasersensingandimaging)；
專題三：紅外成像技術(shù)及應(yīng)用(Advancesininfraredimagingandapplications)；
專題四：成像探測(cè)器技術(shù)與應(yīng)用(Advancesinimagingdetectorsandapplications)；
專題五：太赫茲技術(shù)與應(yīng)用(Terahertzwavetechnologiesandapplications)；
專題六：空間探測(cè)技術(shù)與應(yīng)用(Spaceexplorationtechnologiesandapplications)；
專題七：生物激光及其醫(yī)學(xué)應(yīng)用(Biologicalandmedicalapplicationsofphotonicssensingandimaging)
第四屆國(guó)際光電子探測(cè)與成像技術(shù)學(xué)術(shù)交流會(huì)組織單位：
主辦單位：中國(guó)宇航學(xué)會(huì)光電技術(shù)專業(yè)委員會(huì)；國(guó)際光學(xué)工程學(xué)會(huì)(SPIE)協(xié)辦單位：承辦單位：會(huì)議主席：組織委員會(huì)主席：程序委員會(huì)主席：O1
第四屆國(guó)際光電子探測(cè)與成像技術(shù)學(xué)術(shù)交流會(huì)聯(lián)系方式：
聯(lián)系人：李瑾，吳迪，劉艷，鄧偉，周志遠(yuǎn) 先生
Email：conf@cnoenet.com

原文地址：
http://www.kaocom.com.cn/meeting/53.html