CCATM’2012國際冶金及材料分析測試學(xué)術(shù)報(bào)告會及展覽會

基本信息

作為國內(nèi)外冶金及材料分析測試技術(shù)、冶金制造流程優(yōu)化與產(chǎn)品優(yōu)化的過程檢測及質(zhì)量控制等技術(shù)交流的盛會，第十六屆冶金及材料分析測試學(xué)術(shù)報(bào)告會及展覽會將于2012年10月在北京舉行。會議由中國金屬學(xué)會（CSM）與中國機(jī)械工程學(xué)會(CMES)主辦，國際鋼鐵工業(yè)分析委員會（ICASI）支持。
作為冶金及材料分析測試領(lǐng)域內(nèi)最具權(quán)威性、最具影響力、最大規(guī)模的學(xué)術(shù)報(bào)告會及展覽會，本屆大會將吸引更多的國內(nèi)外相關(guān)領(lǐng)域的專家、學(xué)者、技術(shù)人員及儀器設(shè)備廠商參加，充分展示國內(nèi)外冶金領(lǐng)域內(nèi)分析方法及測試技術(shù)的最新進(jìn)展。
熱忱歡迎冶金、材料、礦山、化工、機(jī)械、地質(zhì)、環(huán)保、外貿(mào)、國防、商檢等單位、部門或院校從事冶金及材料分析、無損檢測、物理檢測和力學(xué)性能測試等工作的技術(shù)人員及管理者踴躍投稿，積極參加。

展品范圍

場：
試樣處理及濕法分析
電感耦合等離子體光譜
電感耦合等離子體質(zhì)譜
原子吸收光譜
原子熒光光譜
火花源原子發(fā)射光譜
原位統(tǒng)計(jì)分布分析
激光光譜
輝光光譜/輝光質(zhì)譜
X射線熒光光譜
狀態(tài)分析
材料氣體分析
冶金過程在線及環(huán)境分析
材料表面/界面分析
微束分析
材料微觀解析
失效分析及動態(tài)斷裂
力學(xué)測試
物性分析
無損檢測
參考物質(zhì)/能力驗(yàn)證/不確定度
實(shí)驗(yàn)室管理與質(zhì)量控制等

主辦信息

主辦單位
中國金屬學(xué)會分析測試分會

聯(lián)系信息

聯(lián)系方式
中國金屬學(xué)會分析測試分會秘書處
地址：北京海淀區(qū)學(xué)院南路76號14信箱
郵編：100081
電話：010-62182398；010-62188330
傳真：010-62181163
網(wǎng)址：www.icasi-csm.org
E-mail：csm@analysis.org.cn； yejinfenxi@163.com